IM7587阻抗分析儀產(chǎn)品概述 可信賴的機(jī)型3GHz ● 測(cè)試電壓測(cè)量頻率：1MHz~3GHz ● 測(cè)量時(shí)間：較快0.5ms（模擬測(cè)量時(shí)間） ● 測(cè)量值偏差：0.07%（測(cè)量頻率1GHz時(shí)的代表值） ● 基本精度：±0.65% rdg. ● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小，測(cè)試頭尺寸僅手掌大小 ● 豐富的接觸檢查（DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定） ● 分析模式下可以邊掃描測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平邊

IM7585阻抗分析儀產(chǎn)品概述 高速、高穩(wěn)定性測(cè)量，提高生產(chǎn)量！測(cè)量時(shí)間：較快0.5ms，測(cè)量值偏差0.07% ● 測(cè)量頻率：1MHz~1.3GHz ● 測(cè)量時(shí)間：較快0.5ms（模擬測(cè)量時(shí)間） ● 測(cè)量值偏差：0.07%（測(cè)量頻率1GHz時(shí)的代表值） ● 基本精度：±0.65% rdg. ● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小，測(cè)試頭僅手掌大小 ● 豐富的接觸檢查功能（DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定）

IM7583阻抗分析儀產(chǎn)品概述 高速、高穩(wěn)定性測(cè)量，提高生產(chǎn)量！測(cè)量時(shí)間：較快0.5ms ● 測(cè)量頻率：1MHz~600MHz ● 測(cè)量時(shí)間：較快0.5ms（模擬測(cè)量時(shí)間） ● 基本精度：±0.65% rdg. ● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小，測(cè)試頭僅手掌大小 ● 豐富的接觸檢查功能（DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定） ● 使用分析功能在掃描測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量

IM7581阻抗分析儀產(chǎn)品概述 較快0.5ms，覆蓋100kHz~300MHz的低頻 ● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小、測(cè)試頭僅手掌大小 ● 豐富的接觸檢查功能（DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定） ● 使用分析功能在掃描測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量

IM7580A阻抗分析儀產(chǎn)品概述 較快0.5ms，高速、高穩(wěn)定測(cè)量，節(jié)省空間的半個(gè)機(jī)架大小 ● 測(cè)量頻率1MHz~300MHz ● 測(cè)量時(shí)間：較快0.5ms ● 基本精度±0.72%rdg. ● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小、測(cè)試頭僅手掌大小 ● 豐富的接觸檢查功能（DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定） ● 使用分析功能在掃描測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量

IM3590化學(xué)阻抗分析儀產(chǎn)品概述 用于測(cè)量電氣化學(xué)零件和材料/電池/EDLC（電氣雙層電容） ● 適用于離子運(yùn)動(dòng)和溶液電阻測(cè)量，1mHz ～ 200kHz的寬范圍信號(hào)源 ● 1臺(tái)機(jī)器即可實(shí)現(xiàn)LCR測(cè)量、掃描測(cè)量的連續(xù)測(cè)量和高速檢查 ● 可測(cè)量電池的無負(fù)載狀態(tài)產(chǎn)生的內(nèi)部電阻 ● 較快2ms的高速測(cè)量，實(shí)現(xiàn)掃描測(cè)量的高速化 ● 基本精度±0.05%，零件檢查到研究開發(fā)測(cè)量均可對(duì)應(yīng)

IM3570阻抗分析儀產(chǎn)品概述 1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)不同測(cè)量條件下的高速檢查 ● 1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)LCR測(cè)量、DCR測(cè)量、掃描測(cè)量等的連續(xù)測(cè)量和高速檢查 ● LCR模式下較快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測(cè)量 ● 基本精度±0.08%的高精度測(cè)量 ● 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測(cè)量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測(cè)量