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GSB-02多通道掃描盒技術(shù)參數(shù)
點(diǎn)擊次數(shù):750 更新時(shí)間:2020-06-11

GSB-01多通道掃描盒 & GSB-02多通道掃描盒

產(chǎn)品特點(diǎn)

型號(hào):GSB-01(8CH高壓掃描盒),GSB-02(6CH高壓和2CH接地阻抗掃描盒)

多通道輸出,用于耐壓、絕緣阻抗、接地阻抗測(cè)試

高亮度LED,顯示通道、狀態(tài)&判斷

前&后輸入接口設(shè)計(jì),適合GPT-9800/9900/9900A系列

一臺(tái)GPT-9800/9900/9900A系列多連接4個(gè)掃描盒(32CH)

產(chǎn)品敘述

固緯針對(duì)特定的安全測(cè)試儀系列提供選件,多通道掃描盒。這款多通道掃描盒GSB-01/02具有將GPT-9800/9900 / 9900A系列提供的測(cè)試電壓或電流分配到多個(gè)測(cè)試點(diǎn)的功能。

一臺(tái)掃描儀多可以使用八個(gè)通道輸出。操作人員可以根據(jù)選定的掃描儀型號(hào)在測(cè)試點(diǎn)上進(jìn)行AC / DC耐壓,絕緣電阻和接地連接測(cè)試。

此外,多可將四臺(tái)掃描儀連接到測(cè)試儀,多允許32個(gè)通道。這些功能確保了具有多個(gè)測(cè)試點(diǎn)的電氣和電子設(shè)備的高可靠性和省力。

每個(gè)通道的電位模式- HI(電壓施加),LO(返回)和X(開(kāi)路模式)可通過(guò)前面板操作或通過(guò)GPT-9800/9900的USB / GPIB / 9900A。

多路復(fù)用掃描器允許在八個(gè)測(cè)試通道中的設(shè)置-交流/直流耐受或絕緣電阻或接地連接測(cè)試。例如,可以將CH1?CH3設(shè)置為HI(高電壓),將CH4設(shè)為L(zhǎng)O。

它為GPT-9800/9900 / 9900A測(cè)試儀增加了以下功能:

一臺(tái)掃描儀將輸出擴(kuò)展到八個(gè)通道??梢詾槊總€(gè)通道設(shè)置HI,LO或X的電位,根據(jù)掃描儀的型號(hào),可以在任意八個(gè)測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行AC / DC耐壓,絕緣電阻或接地連接測(cè)試。

一臺(tái)GPT-9800/9900 / 9900A測(cè)試儀多可連接四臺(tái)掃描儀。這允許輸出擴(kuò)展到多達(dá)32個(gè)通道。

這樣可以節(jié)省人力,可靠的耐電壓,絕緣電阻或電氣或電子設(shè)備或具有多個(gè)測(cè)試點(diǎn)的電子元件的接地連接測(cè)試。

產(chǎn)品規(guī)格

固緯針對(duì)特定的安全測(cè)試儀系列提供選件,多通道掃描盒。這款多通道掃描盒GSB-01/02具有將GPT-9800/9900 / 9900A系列提供的測(cè)試電壓或電流分配到多個(gè)測(cè)試點(diǎn)的功能。

一臺(tái)掃描儀多可以使用八個(gè)通道輸出。操作人員可以根據(jù)選定的掃描儀型號(hào)在測(cè)試點(diǎn)上進(jìn)行AC / DC耐壓,絕緣電阻和接地連接測(cè)試。

此外,多可將四臺(tái)掃描儀連接到測(cè)試儀,多允許32個(gè)通道。這些功能確保了具有多個(gè)測(cè)試點(diǎn)的電氣和電子設(shè)備的高可靠性和省力。

每個(gè)通道的電位模式- HI(電壓施加),LO(返回)和X(開(kāi)路模式)可通過(guò)前面板操作或通過(guò)GPT-9800/9900的USB / GPIB / 9900A。

多路復(fù)用掃描器允許在八個(gè)測(cè)試通道中的設(shè)置-交流/直流耐受或絕緣電阻或接地連接測(cè)試。例如,可以將CH1?CH3設(shè)置為HI(高電壓),將CH4設(shè)為L(zhǎng)O。

它為GPT-9800/9900 / 9900A測(cè)試儀增加了以下功能:

一臺(tái)掃描儀將輸出擴(kuò)展到八個(gè)通道??梢詾槊總€(gè)通道設(shè)置HI,LO或X的電位,根據(jù)掃描儀的型號(hào),可以在任意八個(gè)測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行AC / DC耐壓,絕緣電阻或接地連接測(cè)試。

一臺(tái)GPT-9800/9900 / 9900A測(cè)試儀多可連接四臺(tái)掃描儀。這允許輸出擴(kuò)展到多達(dá)32個(gè)通道。

這樣可以節(jié)省人力,可靠的耐電壓,絕緣電阻或電氣或電子設(shè)備或具有多個(gè)測(cè)試點(diǎn)的電子元件的接地連接測(cè)試。